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X熒光光譜儀原理及應(yīng)用綜述
X熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,XRF)是一種基于X射線熒光效應(yīng)的分析儀器。其**原理是:當(dāng)高能X射線照射樣品時(shí),樣品中的原子內(nèi)層電子被激發(fā)逸出,形成空穴;隨后,外層電子躍遷填補(bǔ)空穴,并釋放出特征X射線熒光。每種元素的特征X射線能量(或波長)具有**性,通過檢測(cè)這些特征信號(hào)即可確定樣品中的元素組成及含量。
X熒光光譜儀原理及應(yīng)用綜述
X熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,XRF)是一種基于X射線熒光效應(yīng)的分析儀器。其**原理是:當(dāng)高能X射線照射樣品時(shí),樣品中的原子內(nèi)層電子被激發(fā)逸出,形成空穴;隨后,外層電子躍遷填補(bǔ)空穴,并釋放出特征X射線熒光。每種元素的特征X射線能量(或波長)具有**性,通過檢測(cè)這些特征信號(hào)即可確定樣品中的元素組成及含量。